隱裂、熱斑、PID效應，是影響晶硅光伏組件性能的三個重要因素。帶大家了解一下電池片隱裂的原因、如何識別及預防方法。

1.什么是“隱裂”

隱裂是晶體硅光伏組件的一種較為常見的缺陷，通俗的講，就是一些肉眼不可見的細微破裂(micro-crack)。晶硅組件由于其自身晶體結構的特性，十分容易發(fā)生破裂。

在晶體硅組件生產(chǎn)的工藝流程中，許多環(huán)節(jié)都有可能造成電池片隱裂。隱裂產(chǎn)生的根本原因，可歸納為硅片上產(chǎn)生了機械應力或熱應力。現(xiàn)在為了降低成本，晶硅電池片向越來越薄的方向發(fā)展，降低了電池片防止機械破壞的能力，更容易產(chǎn)生隱裂。

2. “隱裂”對組件性能的影響

晶硅太陽能電池的結構如下圖所示，電池片產(chǎn)生的電流主要靠表面相互垂直的主柵線和細柵線收集和導出。因此，當隱裂(多為平行于主柵線的隱裂)導致細柵線斷裂時，電流將無法被有效輸送至主柵線，從而導致電池片部分乃至整片失效，還可能造成碎片、熱斑等，同時引起組件的功率衰減。

垂直于主柵線的隱裂幾乎不對細柵線造成影響，因此造成電池片失效的面積幾乎為零。

而正處于快速發(fā)展的薄膜太陽能電池，由于其材料、結構特性，不存在隱裂的問題。同時其表面通過一層透明導電薄膜收集和傳輸電流，即使電池片有小的瑕疵造成導電膜破裂，也不會造成電池大面積失效。

有研究顯示，組件中如果某個電池的失效面積在8%以內(nèi)，則對組件的功率影響不大，并且組件中2/3的斜條紋隱裂對組件的功率沒有影響。所以說，雖然隱裂是晶硅電池常見的問題，但也不必過度擔心。

3. 識別“隱裂”的方法

EL(Electroluminescence，電致發(fā)光)是一種太陽能電池或組件的內(nèi)部缺陷檢測設備，是簡單有效的檢測隱裂的方法。利用晶體硅的電致發(fā)光原理，通過高分辨率的紅外相機拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定組件的缺陷。具有靈敏度高、檢測速度快、結果直觀形象等優(yōu)點。

4. 形成“隱裂”的原因

外力：電池片在焊接、層壓、裝框或搬運、安裝、施工等過程中會受外力，當參數(shù)設置不當、設備故障或操作不當時會造成隱裂。

高溫：電池片在低溫下沒有經(jīng)過預熱，然后在短時間內(nèi)突然受到高溫后出現(xiàn)膨脹會造成隱裂現(xiàn)象，如焊接溫度過高、層壓溫度等參數(shù)設置不合理。

原材料：原材料的缺陷也是導致隱裂的主要因素之一。

5. 預防光伏組件隱裂的要點

在生產(chǎn)過程中以及后續(xù)的存放、運輸、安裝中避免電池片受到不當?shù)耐饬槿?，也注意儲存環(huán)境溫度變化范圍。

在焊接過程中電池片要提前保溫(手焊)烙鐵溫度要符合要求。

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參考資料：淘光伏資料庫

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